Байесовские технологии в управлении операционными рисками
УДК 654.07.012.12
Шевцова Ю.В.
Ключевые слова: операционный риск, байесовские сети, диаграммы влияния.
Статья опубликована в № 10 журнала «Электросвязь» за 2010 г.
58-6111УДК 654.07.012.12
Шевцова Ю.В.
Ключевые слова: операционный риск, байесовские сети, диаграммы влияния.
Статья опубликована в № 10 журнала «Электросвязь» за 2010 г.
58-6111
Отправить комментарий
Для отправки комментария вам необходимо авторизоваться.