Анализ совместимости требований отечественных и зарубежных стандартов современной телеметрии по видам модуляции 

УДК 621.398

Анненков А.М. 

Ключевые слова: спектральная маска, спектральная эффективность, помехоустойчивость, частота появления битовых ошибок, частотная манипуляция с непрерывной фазой, международные стандарты.

Статья опубликована в № 9 журнала «Электросвязь» за 2010 г.

50-5312

Последние выпуски